지문 스캐너에서 지문 인식은 지문 이미지 왜곡을 처리합니다.

지문 스캐너에 익숙한 고객은 지문 액세스 제어의 노드 기반 매칭 모드가 지문 일치에서 일반적인 방법이라는 것을 알고 있습니다. 또한 노드 기반 매칭 모드는 지문 일치의 주류 메소드라고도합니다.

기존 노드 기반 매칭 방법이 있습니다. 특정 전략을 통해 금형 지문 및 입력 지문에서 노드는 참조 노드 쌍으로 선택됩니다. 노드 일치를 수행 할 때 먼저 참조 노드를 정렬 한 다음 다른 노드의 일치 정도를 평가하십시오. 이 방법은 기준 노드에 더 가까운 영역의 정렬 정도가 더 좋았으며, 참조 노드에서 더 멀리 떨어진 영역의 정렬 정도는 상대적으로 열악 할 수 있지만 여러 쌍의 참조 노드를 기반으로 일치하는 방법을 연구 할 수 있습니다. . 지문의 각 영역에 여러 쌍의 기준 노드가 분포됩니다. 여러 쌍의 기준 노드가 정렬 된 후, 두 지문의 각 영역의 정렬 정도는 비교적 균형을 이룰 것입니다. 각 일치하는 노드 쌍의 위치 차이와 방향 차이는 비교적 균일합니다. 이러한 방식으로, 단일 기준점 정렬을 기반으로하는 방법에서, 위치 차이 또는 방향 차이로 인해 일치하는 노드가되지 않는 노드 쌍이 너무 큽니다. 이 방법에 따라 위치 차이와 방향 차이의 감소로 인해 일치하는 노드 쌍이 될 수 있습니다. 이 방법에서 연구해야 할 문제는 여러 참조 노드를 선택하는 방법과 다중 참조 노드를 정렬하는 방법입니다.